酸纯化利用热辐射原理，保持液体温度低于沸点温度蒸发，再将其酸蒸气冷凝从而制备高纯水和高纯试剂，广泛应用于样品处理及分析中。可以满足ICP、ICP-MS极低的检测限需要及苛刻的分析应用中提供实验室级超纯酸，所用容器均采用Teflon耐腐蚀无吸附塑料，可以处理HNO3、HCL、HF等实验室的常用酸。实验证明将金属杂质含量约10PPB的酸经过一次蒸馏后，金属杂质含量可以降低到0.01PPB左右。若对酸要求更高，可增加提纯次数。酸纯化器是制备高纯水和高纯酸或试剂的氟塑料仪器，它具有技...

浓缩仪综合利用离心力、加热和外接真空泵提供的真空作用来进行溶剂蒸发，可同时处理多个样品而不会导致交叉污染。冷阱能有效捕捉大部分对真空泵有损害的溶剂蒸气，对高真空油泵提供有效的保护。真空泵使系统处于真空状态，降低溶剂的沸点，加快溶剂的蒸发速率。浓缩仪产品优势：1.微电脑控制，一键启动、恒温加热、逐次进样、自动浓缩定量、智能语音提示。2.烧杯转换定量或瓷蒸发皿直接定量两种浓缩模式，国标方法，样品无需转移，减少转移过程造成样品损失，极大满足用户需求。3.远红外辐射加热，功率可调、恒...

前言电子级多晶硅金属杂质含量是评价其产品质量的重要指标之一，其杂质含量的高低直接影响下游晶圆制造产品质量，所以对其金属杂质含量的控制至关重要。本实验参照《GB∕T37049-2018电子级多晶硅中基体金属杂质含量的测定电感耦合等离子体质谱法》，采用LabMS3000sICP-MS测试电子级多晶硅中基体金属杂质含量。LabMS3000s采用的加强型离子透镜和偏转技术，结合高性能冷等离子技术和新一代碰撞反应池技术，可有效消除干扰，从而获得更低的检测限、背景等效浓度和准确的超痕量分...

前言硅片是半导体制造业的基础材料，硅片表面极其少量的金属杂质元素污染都可能导致器件的功能丧失或者可靠性变差，随着半导体制程的不断提高，对金属离子污染物的控制也越来越严格。本实验参考《GB∕T39145-2020硅片表面金属元素含量的测定电感耦合等离子体质谱法》，采用LabMS3000sICP-MS测定硅片表面杂质元素含量。LabMS3000s采用的加强型离子透镜和偏转技术，结合高性能冷等离子技术和新一代碰撞反应池技术，可有效消除干扰，从而获得更低的检测限、背景等效浓度和准确的...

摘要每年全球大量废弃塑料进入环境，分解形成微塑料，目前全球都把微塑料当做一个严重的环境污染源。环境中土壤受到微塑料污染，则对土壤中微塑料分析变得必要。热裂解可对此微塑料进行有效的分析。本应用采用Pyroprobe6150热裂解串联GC-MS利用微塑料的特征裂片组分对环境中土壤的微塑料进行定性定量分析。1.仪器设备1.1Pyroprobe6150热裂解仪，CDSAnalytical1.2Flex-HPSE全自动高效快速溶剂萃取系统，莱伯泰科1.3MultiVap-10多通道平行...

前言欧盟ROHS2.0对电子电气产品中多溴联苯和多溴联苯醚进行了含量0.1%限制，中国的GB/T26572-2011也对电子电气产品中多溴联苯和多溴联苯醚进行了含量限制，也是0.1%。相对应的检测方法标准分别是IEC62321:2008和GB/T26125-2011，检测方法主要是电子电气产品样品取样后，利用有机溶剂溶解，经过索氏萃取装置进行萃取，再进入GC-MS分析。本实验首先利用热裂解将样品闪蒸，多溴联苯和多溴联苯醚气化进入GC-MS分析，则PY-GC-MS可以作为粗筛，...