前言电子级多晶硅金属杂质含量是评价其产品质量的重要指标之一，其杂质含量的高低直接影响下游晶圆制造产品质量，所以对其金属杂质含量的控制至关重要。本实验参照《GB∕T37049-2018电子级多晶硅中基体金属杂质含量的测定电感耦合等离子体质谱法》，采用LabMS3000sICP-MS测试电子级多晶硅中基体金属杂质含量。LabMS3000s采用的加强型离子透镜和偏转技术，结合高性能冷等离子技术和新一代碰撞反应池技术，可有效消除干扰，从而获得更低的检测限、背景等效浓度和准确的超痕量分...

前言硅片是半导体制造业的基础材料，硅片表面极其少量的金属杂质元素污染都可能导致器件的功能丧失或者可靠性变差，随着半导体制程的不断提高，对金属离子污染物的控制也越来越严格。本实验参考《GB∕T39145-2020硅片表面金属元素含量的测定电感耦合等离子体质谱法》，采用LabMS3000sICP-MS测定硅片表面杂质元素含量。LabMS3000s采用的加强型离子透镜和偏转技术，结合高性能冷等离子技术和新一代碰撞反应池技术，可有效消除干扰，从而获得更低的检测限、背景等效浓度和准确的...

摘要每年全球大量废弃塑料进入环境，分解形成微塑料，目前全球都把微塑料当做一个严重的环境污染源。环境中土壤受到微塑料污染，则对土壤中微塑料分析变得必要。热裂解可对此微塑料进行有效的分析。本应用采用Pyroprobe6150热裂解串联GC-MS利用微塑料的特征裂片组分对环境中土壤的微塑料进行定性定量分析。1.仪器设备1.1Pyroprobe6150热裂解仪，CDSAnalytical1.2Flex-HPSE全自动高效快速溶剂萃取系统，莱伯泰科1.3M*p-10多通道平行浓缩仪，莱...

前言欧盟ROHS2.0对电子电气产品中多溴联苯和多溴联苯醚进行了含量0.1%限制，中国的GB/T26572-2011也对电子电气产品中多溴联苯和多溴联苯醚进行了含量限制，也是0.1%。相对应的检测方法标准分别是IEC62321:2008和GB/T26125-2011，检测方法主要是电子电气产品样品取样后，利用有机溶剂溶解，经过索氏萃取装置进行萃取，再进入GC-MS分析。本实验首先利用热裂解将样品闪蒸，多溴联苯和多溴联苯醚气化进入GC-MS分析，则PY-GC-MS可以作为粗筛，...

作为样品前处理领域的行业先锋，通过20余年的技术积淀，莱伯泰科已研发生产出各类成熟的色谱前处理产品，包括快速溶剂萃取仪、吹扫捕集仪、固相萃取仪、热裂解仪、热脱附、凝胶净化系统等，可以多方位满足色谱分析的前处理需求，并已广泛应用于环境检测、食品安全、医疗卫生、疾病控制、材料研究、生命科学等领域。随着色谱技术在各行业更加广泛的应用与普及，我们特开设了“色谱前处理技术专题”，展示莱伯泰科前处理产品的新技术和应用，便于大家更全面地了解各类色谱前处理技术。第一期：热裂解技术的现状与展望...

全自动配标仪用于分析实验中的液体样品稀释，标准曲线配置，混合标样配置，液体样品分装等液体处理操作，支持多级稀释的配制需求，提供标准样品，标准曲线及样品制备服务，为后续的GC/LC、ICP、ICP-MS、AAS、UV等提供标准样品，广泛应用于高校，环境、农业，食品、疾控、制药，化工，第三方等领域。全自动配标仪特点：1、采用触控一体化设计，可全自动设置任意单标，曲线或混标溶液，保证配制液体样品处理的准确性。2、耐腐蚀高强度的进样设计，可反复移取浓硫酸98%和强碱、有机溶剂等各种腐...